方阻測試儀通常具有較高的自動化程度。操作人員只需將待測材料放置在測試臺上，啟動測試程序，儀器即可自動完成電流注入、電壓測量、數(shù)據(jù)處理和結果顯示等步驟。一些儀器還具備自動探針壓力調節(jié)、測試區(qū)域定位等功能，進一步簡化了操作過程。內(nèi)部配備了強大的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，能夠根據(jù)測量的電壓、電流等參數(shù)自動計算出方阻值，并進行數(shù)據(jù)存儲、統(tǒng)計分析等。還可以通過連接計算機等外部設備，實現(xiàn)數(shù)據(jù)的遠程傳輸和進一步處理，方便用戶對測量數(shù)據(jù)進行管理和分析。
方阻測試儀在測試過程中，探針只是與材料表面輕微接觸，通入的電流通常也在材料允許的范圍內(nèi)，不會對材料的內(nèi)部結構造成破壞。這使得它可以在材料的研發(fā)、生產(chǎn)過程中進行多次重復測量，而不會對材料的性能產(chǎn)生不良影響，有利于對材料性能的評估和質量控制。
方阻測試儀的測定步驟：
1.開機預熱：將電源插頭插入插座，打開電源開關，讓儀器預熱15分鐘左右，保證測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定。
2.放置樣品：把待測樣品放置在測試臺上，確保樣品表面平整、干凈，與探針良好接觸。對于不規(guī)則形狀的樣品，需盡量選擇表面均勻、有代表性的區(qū)域進行測試。
3.連接探針：將四探針輕輕放置在樣品表面上，使探針與樣品保持良好接觸，且四根探針等距共線排列。
4.設置參數(shù)：根據(jù)樣品的材料、預計方阻范圍等，在測試儀上設置合適的測試電流、電壓等參數(shù)。一般來說，對于半導體材料等電阻率較高的樣品，可選用較小的測試電流；對于導電性能較好的樣品，可適當增大測試電流。
5.開始測量：按下測量按鈕，測試儀會在兩個外部探針之間施加穩(wěn)定的電流，然后通過測量兩個內(nèi)部探針之間的電位差來計算電阻值，并自動根據(jù)公式計算出方阻。
6.讀取記錄：測量完成后，從測試儀的顯示屏上讀取方阻數(shù)值，并記錄下來。若需要多次測量取平均值以提高精度，則需在不同位置重復上述測量步驟。
7.結束測試：測量完畢后，關閉電源開關，整理好測試臺及探針等配件。
