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方阻測量時(shí)探頭的關(guān)系

方阻也稱為方塊電阻，指一個(gè)正方形的薄膜導(dǎo)電材料邊到邊間的電阻作為描述。

涂層類，鍍膜類產(chǎn)品基本上都是通過測量方阻的形式來衡量樣品的厚度。

方塊電阻有一個(gè)特性，即任意大小的正方形邊到邊的電阻都是一樣的

影響方阻的因素主要有以下幾個(gè)方面：

探針與邊緣的距離；

探針之間的等距離

一般測量方阻的儀器有手持式和臺(tái)式兩種，這也是目前市場上比較常見的，

手持式的FT-392手持式四探針測試儀;臺(tái)式的FT-331四探針方阻測試儀；

手持式的精度一般都比臺(tái)式的低些，臺(tái)式的量程寬些，當(dāng)然，精度也高很多。

方阻儀測量特別注意對探頭的保護(hù)，探針的保護(hù)是非常重要的，我們很多使用者，從出現(xiàn)探針被弄壞，探針丟失，探針沒有彈性，以及探針形變等，這些都是由于保管不到位造成的，正常情況下，一付探針的使用壽命可以達(dá)到3年左右，比較頻繁的使用條件下。

方阻測試對環(huán)境要求也是比較高的，建議在相當(dāng)恒定的環(huán)境下測量，減少溫度，濕度偏差及其他不確定性操作的數(shù)據(jù)偏差，

同時(shí)建議在測試中，采用PC軟件來做分析，這樣可以觀察過程數(shù)據(jù)變化及數(shù)據(jù)的保存等，都是不錯(cuò)的選擇。